2020


04/12/2020

Nous avons publié un nouvel article dans la revue Analytical Chemistry.

We publish a new paper in Analytical Chemistry.

Characterization of the chemical composition of uranium microparticles with irregular shapes using standardless electron probe microanalysis and micro-Raman spectrometry

M. Essani, E. Brackx, F. Pointurier, F. Berthy, E. Excoffier, P. Jonnard

Anal. Chem. 92, 8435-8443 (2020) (https://doi.org/10.1021/acs.analchem.0c01124)

https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03039927


29/10/2020

Nous sommes co-auteurs de la publication suivante parue dans Spectrochimica Acta B
We are co-authors of the following paper published in Spectrochimica Acta B
 

Laboratory grazing-incidence X-ray fluorescence spectroscopy as an analytical tool for the investigation of sub-nanometer CrSc multilayer water window optics

V. Szwedowski-Rammert, P. Hönicke, M.-Y. Wu, U. Waldschläger, A Gross, J. Baumann, G. Götzke, F. Delmotte, E. Meltchakov, B. Kanngießer, P. Jonnard, I. Mantouvalou

Spectrochim. Acta B174, 105995 (2020) (https://doi.org/10.1016/j.sab.2020.105995)

https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02982883

06/10/2020

En collaboration avec les collègues de l'Institute for Physics of Microstructures of the Russian Academy of Sciences à Nijni Novgorod et de la ligne de lumière synchrotron BEAR/ELETTRA à Trieste, nous avons mesuré la réflectivité d'une multicouche périodique optimisée pour le domaine spectral de l'émission K du lithium.

In collaboration with colleagues of the Institute for Physics of Microstructures of the Russian Academy of Sciences in Nijni Novgorod and of the synchrotron beamline BEAR/ELETTRA in Trieste, we have measured the reflectivity of a periodic multilayer optimized for the spectral range of the lithium K emission.


27/06/2020

Nous sommes co-auteurs de la publication suivante parue dans Applied Surface Science
We are co-authors of the following paper published in Applied Surface Science
 

Interdiffusion behaviors observation in TiN/ZrOxNy bilayer by XAS and ToF-SIMS

Y.-Y. Yuan, P. Jonnard, K. Le Guen, B.-Y. Zhang, A. Galtayries, A. Giglia, Y.-C. Tu, C. Yan, R. Lan, R. Liu

Appl. Surf. Sci. 528, 146968 (2020) (https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2020.146968)

https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02882706v1


18/05/2020

Nous sommes co-auteurs de la publication suivante parue dans Surface Engineering
We are co-authors of the following paper published in Surface Engineering
 

Structure and optical properties of CrOxNy films with composition modulation

Y.-Y. Yuan, B.-Y. Zhang, J. Sun, P. Jonnard, K. Le Guen, Y.-C. Tu, C. Yan, R. Lan

Surface Engineering 36, 411-417 (2020) (https://doi.org/10.1080/02670844.2019.1656356)

https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02616495


03/02/2020

Nous proposons une communication invitée à la conférence
We propose an invited communication to the conference
3rd Int. Symp. on Materials, Manufacturing Processes and Devices (MMPD2020), Zhenjiang, China, 17-20 April 2020
 

Interfaces between nanometer thin films studied by x-ray standing waves in grazing incidence and grazing exit modes

P. Jonnard

cliquez ici pour télécharger le résumé / Click here to download the abstract

Delayed in October/November owing to the coronavirus crisis


28/01/2020

Nous sommes co-auteurs de la publication suivante parue dans Physical Review A
We are co-authors of the following paper published in The Physical Review A
 

X-ray emission from layered media irradiated by an x-ray free-electron laser

O. Peyrusse, P. Jonnard, K. Le Guen, J.-M. André

Phys. Rev. A101, 013818 (2020) (https://doi.org/10.1103/PhysRevA.101.013818)

https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02458070


17/01/2020

Nous recevrons pour un séminaire / We will receive for a seminar

Yves Ménesguen
CEA-LIST – Centre de Saclay, Laboratoire National Henri Becquerel

CASTOR, un instrument de caractérisation de couches minces par XRR-GIXRF à SOLEIL

le mercredi 5 février 2020 à 14h

salle 121 couloir 43-44

télécharger l'annonce / download the flyer


14/01/2020

 Nous proposons une communication aux Journées Surface et Interfaces, Paris, 22-24 janvier 2020 (https://jsi2020.sciencesconf.org/)

Guide d'ondes analysé par PIXE en mode Kossel

P. Jonnard, J.-P. Zhang, K. Le Guen, R. Delaunay, I. Vickridge, E. Briand, D. Schmaus